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国产TDR特性阻抗测试仪在PCB、线材方面的应用

2016-08-08 14:06:29 来源：

爱思达TDR特性阻抗测试仪是国内*套自主研发的特性阻抗智能测试系统，具有完全的自主知识产权，用于线路板特性阻抗快速在线测试，和传统TDR取样示波器相比，增加了针对线路板、电缆行业的标准化、自动化测试和分析软件，是一种面向工业流水化生产线的智能测试仪器。
该仪器基于时域反射法及取样示波器原理设计，遵循IPC、Intel等国际规范要求，能够批量化、自动化、快速、准确测试被测件的特性阻抗，并提供测试图形分析、统计数据分析、SPC分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告及打印等功能。适用于刚性/挠性PCB、FFC、高速背板、高频电缆、高频线材、覆铜板的研发、设计、生产及品管单位，此外仪器扩展功能还能够测量损耗、衰减、介电常数、传输延时、差分延时等高频参数，为高频互连器件高频参数测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。
该产品测试速度小于1秒/次，单端阻抗50欧姆测试精度为±1%，差分100欧姆为±2%，入射脉冲上升时间小于60ps，TDR带宽为3GHz，*小采样间隔10ps，等效采样率100GS/s，*小分辨距离为1.5cm，*大存储深度5000点。相关技术指标居国内领先，达到国际先进水平，已在全国珠三角、长三角等地近百家客户得到广泛应用，并已成功进入国际市场，赢得了市场的高度认可。
TDR特性阻抗测试仪技术参数

	测试参数	参数指标
1.	控制阻抗测量范围	单端10～150Ω（可扩展至250Ω）差分20～300Ω（可扩展至360Ω）
2.	测量精度	单端50Ω±1%，差分100Ω±3% （可溯源到28、50、75、100Ω美国NIST标准）
3.	测量长度	大2m 小0.04m（使用匹配探针）， 0.07m（使用非匹配探针）
4.	水平显示分辨率	0.2mm（0.008”）
5.	垂直显示分辨率	0.03Ω
6.	测试方法	时域反射法（TDR）
7.	特性阻抗校准技术	时域两点快速校准时域多点高精度校准
8.	TDR带宽	≥3GHz
9.	入射脉冲带宽	≥6GHz
10.	入射脉冲上升时间	≤60ps
11.	反射阶跃脉冲上升时间	≤120ps
12.	等效采样率	100GS/s
13.	TDR取样速率	100kHz
14.	TDR水平采样分辨率	10ps
15.	TDR垂直采样分辨率	14Bit
16.	TDR*大采样点数	5000
17.	测量速度	单端：<0.6s 差分：<1s
18.	开机时间	10s
19.	热机时间	10min